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“光源遠(yuǎn)場模型”和“光源近場模型”淺析

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關(guān)鍵詞: 光學(xué),光學(xué)設(shè)計,光源

      據(jù)悉,目前在LED器件或燈具設(shè)計過程中,一般采用兩種模型對光源進(jìn)行模擬,即“光源遠(yuǎn)場模型”和“光源近場模型”。

      而傳統(tǒng)方法多以LED光源的遠(yuǎn)場測試數(shù)據(jù)為設(shè)計依據(jù),將光源看作一個各向同性的點光源,僅僅是針對LED光源相對粗糙的測量,并不能精確地描述光源的空間光分布情況,容易導(dǎo)致LED產(chǎn)品的色度和亮度不均勻、光源整體效率低等問題,LED光線集的獲取已成為LED光學(xué)設(shè)計的瓶頸問題。

      因此,獲取并合理利用精確、詳實的LED光源信息,尤其是光源空間光分布信息是LED光學(xué)設(shè)計的關(guān)鍵點。

      相比遠(yuǎn)場測試,光源近場模型則是將光源看作一個復(fù)雜的面光源來研究其實際發(fā)光情況。因此,通過對LED光源進(jìn)行近場測試,可以獲得包含光線數(shù)量、光線的角度范圍、總光通量和光線起點等詳細(xì)光源信息的光線集文件。近場測試獲得的LED光源光線集的應(yīng)用可以有效提高LED光學(xué)設(shè)計的質(zhì)量和效率。

    (審核編輯: 小王子)

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