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新方法檢測高功率激光裝置光束質(zhì)量

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關(guān)鍵詞: 檢測,激光裝置

    在首屆中國軍民兩用技術(shù)創(chuàng)新應(yīng)用大賽獲金獎的高功率激光物理聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室劉誠研究員和朱健強(qiáng)研究員團(tuán)隊(duì)研制的“新型激光光束光場在線測量儀”以波前分束編碼成像為基本技術(shù),實(shí)現(xiàn)了光束復(fù)振幅的直接測量,能同時獲得光束同一位置的光場分布和波面,為高功率激光裝置光束質(zhì)量檢測提供了新的方法。

    光束質(zhì)量作為激光器的重要性能評價指標(biāo)之一,一直是激光光學(xué)領(lǐng)域的一個研究熱點(diǎn)。眾所周知,美國勞倫斯·利弗莫爾實(shí)驗(yàn)室的“國家點(diǎn)火裝置”(NIF)是目前最大規(guī)模的光學(xué)工程項(xiàng)目。早在上世紀(jì)70年代,勞倫斯·利弗莫爾實(shí)驗(yàn)室就建立了Argus、Shiva等裝置,這些慣性約束聚變激光驅(qū)動裝置都是通過空間濾波器進(jìn)行像傳遞,最終進(jìn)行聚焦打靶的激光裝置。

    激光束質(zhì)量檢測參數(shù):近場、遠(yuǎn)場和波面

    空間濾波器是個低通濾波的4f系統(tǒng),通過其像傳遞是為了避免光束傳輸引入調(diào)制幅度過大的菲涅爾衍射環(huán),在隨后的放大介質(zhì)及其它光學(xué)元件中產(chǎn)生自聚焦損傷。

    空間濾波器的作用就是為了改善激光束的質(zhì)量,嚴(yán)格來講每個像傳遞節(jié)點(diǎn)需要監(jiān)測近場(像傳遞面附近光束強(qiáng)度分布)和遠(yuǎn)場(像傳遞面光束傳輸?shù)綗o窮遠(yuǎn)處的光束光強(qiáng)分布)。另外,空間濾波器的輸入輸出波面是保證其基本性能的重要參數(shù),以前的激光裝置光學(xué)元件口徑比較小,波面主要受光路準(zhǔn)直的影響。

    新方法檢測高功率激光裝置光束質(zhì)量

    圖1 空間濾波器像傳遞示意圖

    隨著光學(xué)元件口徑增大,制造裝校引入的像差、中頻波紋等波面誤差會影響近場與遠(yuǎn)場分布,因此監(jiān)測光束質(zhì)量需要兼顧近場、遠(yuǎn)場和波面參數(shù)才完備,如能檢測同一時刻同一位置的三個參數(shù)則最理想。激光束隨著傳輸方向通過一個個光學(xué)元件,波面也隨著光學(xué)元件波面誤差及衍射效應(yīng)變化,近場和遠(yuǎn)場受同一位置的波面畸變影響,唯有“慧眼”識得其“真身”。

    神光裝置的激光束空間參數(shù)檢測

    激光參數(shù)檢測伴隨著神光系列裝置的發(fā)展,從神光I裝置開始就進(jìn)行了較完備的激光參數(shù)測量,其中就包括激光束空間參數(shù)檢測——近場、遠(yuǎn)場和波面。20年前神光II研制過程中,進(jìn)一步優(yōu)化的近場儀和遠(yuǎn)場儀對合理光路排布及光束質(zhì)量監(jiān)測與控制起到了重要作用。

    神光II裝置近場儀:

    采用了高靈敏度科學(xué)CCD相機(jī),被測光束截面位置與CCD相機(jī)接收面物像共軛。儀器設(shè)計(jì)在大幅度衰減光強(qiáng)的情況下保證對被測光束光強(qiáng)分布的線性響應(yīng),衰減片組合與不鍍膜楔板轉(zhuǎn)接反射鏡提升了儀器的量程范圍,采用三級暗箱隔離以防止氙燈光與雜散光的干擾,降低了背景噪聲。數(shù)據(jù)處理引入光束填充因子作為近場分布的評價參數(shù),描述的是光束幾何體積與光束峰值為高構(gòu)成的長方體體積的比值。近場儀的監(jiān)測使神光II裝置光路嚴(yán)格按像傳遞排布,大大改進(jìn)了其光束質(zhì)量。

    神光II裝置遠(yuǎn)場儀:

    采用長焦透鏡成像放大測量遠(yuǎn)場主瓣分布,并采用紋影法擋住焦斑中心點(diǎn)測量遠(yuǎn)場旁瓣。由于光束近遠(yuǎn)場監(jiān)測的作用,神光II裝置長期保持較好的光束質(zhì)量:近場填充因子50%以上、遠(yuǎn)場焦斑95%能量在三倍衍射極限內(nèi)(圖2),這使得神光II裝置至今穩(wěn)定運(yùn)行了16年。

    新方法檢測高功率激光裝置光束質(zhì)量

    圖2 神光II裝置近場(a)、遠(yuǎn)場(b)分布圖

    高功率激光驅(qū)動器光束檢測的方法與難點(diǎn)

    慣性約束高功率固體激光驅(qū)動裝置光束質(zhì)量追求方形平頂高斯分布的近場以便提升增益介質(zhì)的能量提取效率,降低傳輸中非線性效應(yīng)引起的光學(xué)元件破壞風(fēng)險,減小衍射引起的光束調(diào)制;追求能量集中度高的遠(yuǎn)場分布,避免打靶時堵孔并提高輻照能量。

    由于裝置中光學(xué)元件存在波面誤差及其對光束傳輸?shù)臄_動,近遠(yuǎn)場分布無論如何擺脫不了波面畸變的影響。因此,其激光束空間分布檢測的參數(shù)主要有近場強(qiáng)度分布、遠(yuǎn)場特性以及相關(guān)的波面畸變,即反映了裝置特定位置的光束復(fù)振幅分布特性。

    高功率激光驅(qū)動器近場測量普遍采用像傳遞系統(tǒng)縮束成像,成像畸變越低,分辨率越高,得到近場分布的頻率成份就越多,但完全保真是不可能的,對于大口徑近場分布而言,小于mm尺度的起伏難于線性成像或無法測量。而遠(yuǎn)場測量保真度則更難了,主要難點(diǎn)是:

    1)測量的動態(tài)范圍大精度高(動態(tài)范圍4個量級以上);

    2)是位相畸變的不確定性造成實(shí)際遠(yuǎn)場位置的不確定,測量時難于估計(jì)離焦量。

    目前各裝置報(bào)道的直接測量遠(yuǎn)場方法采用“主瓣”、“旁瓣”分離測量的方法可解決第一個難題。但解決第二個難題并沒有最佳的方案。其實(shí)解決遠(yuǎn)場測量的第二個難點(diǎn)的最好方法是獲取高分辨率的波面分布,根據(jù)遠(yuǎn)場和近場、位相之間的關(guān)系計(jì)算出最佳遠(yuǎn)場位置。

    波面的測量無疑比近遠(yuǎn)場測量困難多了,常用的哈特曼光闌傳感器測量方法只能響應(yīng)低頻波面,對于波面的中高頻成份無法測量。剪切干涉方法雖然從神光I裝置就開始使用,國內(nèi)外也普遍采用此方法測量激光束波面[8-11],但調(diào)整到適用量程難度高,單幅干涉圖解算不易,測量分辨率和精度并不理想。

    新方法檢測高功率激光裝置光束質(zhì)量

    圖3 大口徑激光束波前在線精密測量

    (a)是正在用于實(shí)際測量的系統(tǒng)照片,主要部分僅僅包括一塊隨機(jī)相位版和一個CCD,結(jié)構(gòu)非常緊湊。(b)是一塊USAF 1951分辨率板被放置在光束匯聚透鏡的后表面時,所測量到的近場束強(qiáng)度像,從中可以看出分辨率在1.5mm左右,遠(yuǎn)高于哈特曼傳感器的分辨率。(c)和(d)是分別用干涉儀和所研制的測量設(shè)備對同一塊光學(xué)平板進(jìn)行測量時所得到的透射函數(shù),對比可以發(fā)現(xiàn)二者符合的較好。所研制的測量設(shè)備目前所達(dá)到的測量精度約為十分之一波長,這對于激光驅(qū)動器的在線波前檢測來說已經(jīng)十分理想。

    (審核編輯: 林靜)

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