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掃描電子顯微鏡(SEM)的功能

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關(guān)鍵詞: 掃描電子顯微鏡

      動(dòng)物細(xì)毛及其損傷分析是TESTEX眾多服務(wù)中的一部分,通過(guò)采用掃描電子顯微鏡(SEM)和能量色散X射線光譜(EDX)進(jìn)行測(cè)試以提供優(yōu)質(zhì)檢測(cè)服務(wù)。

    (審核編輯: 小王子)

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